1.基体金属磁性。

磁性测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性变化可视为轻微)。为避免热处理和冷加工因素的影响，仪器应使用与试件基体金属性能相同的标准片进行校准；涂层试件也可用于校准。

基体金属的电导率对测量有影响，与其材料成分和热处理方法有关。用与试件基体金属性能相同的标准片校准仪器。

二、基体金属厚度。

每种仪器都有基金属的临界厚度。大于此厚度，测量不受基体金属厚度的影响。

3.边缘效应。

仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此，测量靠近试件边缘或内角是不可靠的。

4.曲率

试件的曲率对测量有影响。随着曲率半径的减少，这种影响总是显著增加。因此，在弯曲试件表面测量不可靠。

5.试件变形。

测头会使软覆盖试件变形，因此在这些试件上无法测量可靠的数据。

6.表面粗糙度。

基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加，影响增加。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。每次测量时，应在不同位置增加测量次数，以克服这种意外误差。如果基体金属粗糙，必须在未涂覆的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置校对仪器零点；或者用不腐蚀基体金属的溶液溶解去除覆盖层，然后校对仪器零点。

7.附着物质。

该仪器对阻碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此必须清除附着物质，以确保仪器测量头与被测部件表面直接接触。

8.测量头部压力。

在试件上施加的压力会影响测量读数，因此，应保持压力恒定。

9.测头取向。

测头的放置方式对测量有影响。在测量过程中，测量头应垂直于样品表面。